ディジタルホログラフィ(DH)干渉法とロックイン発熱解析(LIT)による電子、電気機器のリアルタイムヘルスモニタリングシステムの開発
採択年度 | 2021年度 |
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研究者氏名 | 島根大学 総合理工学部機械・電気電子工学科
教授 横田 正幸 |
萌芽研究テーマ | C:電力インフラの信頼性・環境調和性の向上への挑戦 |
研究概要 | ディジタルホログラフィ(DH)による3次元変位計測とLITによる熱画像診断を同時に実行して電気機器(基板や実装部品)のヘルスモニタリングを行うシステムを開発する。DH、LIT共に測定結果が画像で得られ、基板等の3次元変位分布、熱分布が準実時間で解析できる。GPU並列計算、機械学習を導入した画像診断により機器の状態を非破壊・非接触で診断でき、回路基板や素子の診断に適用可能である。 |
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